エレクトロニクス・半導体 アプリケーション
フラットパネルディスプレイ、記憶材料、IT機器、家電など電気・電子製品各種部材の分析、WEEE/RoHS有害物質規制、品質管理における異物の特定、燃料電池や半導体の研究開発などに、サーモフィッシャーサイエンティフィックの分析装置が活躍します。
| 分析項目 | 製品 | |
|---|---|---|
| 電子・電気製品用部材 | ・異物分析、微量元素分析 ・微量有害物質(RoHS指令指定有質) ・外装部材（ポリマー、金属）の組成析 ・接点異常 ・実装、ボンディング |
AA/ICP GC/MS FT-IR ラマン EDS/EDX |
| 半導体 | ・シリコンウェハなど各種素材 ・絶縁膜の非破壊分析 ・工業用半導体ガス |
GC/MS FT-IR ラマン XPS/AES |
| フラットパネルディスプレイ | ・液晶材料、顔料の構造解析 ・実装（接着）、封止剤 ・ガラス基板表面の分析 ・偏光フィルム中の異物分析 ・透明電極、配向膜 |
GC/MS LC/MS FT-IR ラマン XPS/AES EDS/EDX |
| ハードディスク | ・保護膜、表面潤滑剤の分析 | XPS/AES FT-IR ラマン |
| 汚染・有害物質 | ・臭素系難燃剤の分析 ・電子電気製品中の有害金属、臭素化難燃剤 |
AA/ICP FT-IR ラマン GC/MS EDS/EDX |
