OMNIC ソフトウエア
ESP（Enhanced Synchronization Protocol）機能搭載、「日本語」対応OMNICソフトウエア
FT-IR本体（光学系）のチェック、アクセサリの認識および測定条件の設定から解析までの作業が、誰にでも簡単に確実に行える高い操作性と機能を誇るソフトウエアです。 スペクトル取得において生ずる人為的エラーを回避するとともに、測定の簡便さが著しく向上します。
自動認識, 自動パラメータ設定機能
スマートアクセサリを試料室にセットするだけで、その種類を自動認識するとともに、必要なすべての測定パラメータ（スキャン回数 / 分解能/検出器/ ゲイン/アパーチャ / ミラー速度など）を自動設定します。
スペクトルチェック機能
測定したスペクトルに対し、ピークの存在、飽和ピーク、微分ピーク、ベースラインの傾き、レベル等をチェックできます。サンプルの過多/過少や反射、厚みによるスペクトルの良否を自動判定することが可能です。
各種データ処理
標準的なスペクトルデータ処理機能に加え、アドバンストATR補正やピークフィッティングなど、先進の機能を搭載しています。
ライブラリ サーチ
検索結果を自動判断し、その結果の可否を表示します。また、複数の任意領域のみでのサーチ、化合物名などのテキストを用いるサーチ、複数のアルゴリズムによるサーチが行えます。
ノートブック形式の印刷
スペクトル、構造式、サーチ結果、定量結果、サンプル情報、ピーク位置、測定条件等の全ての測定関連情報をノートブック形式で保存することができます。保存されたファイルは、印刷、検索、再処理編集を行えます。
スペクトル解釈機能
測定したスペクトルの任意領域を指定し、各バンドの帰属や、同じ官能基に対応する別のバンドも自動検索し、スペクトルを解釈します。HTML フォーマットによる情報は、印刷してトレーニング資料としても活用できます。
